動特性試験器

  • 生産から開発・評価まで幅広い用途に合わせたラインアップ。
  • 高圧 ・ 大電流 そして高速化する中であらゆる環境に対応する製品開発を目指しております。
  • 測定温度-60～300℃までの環境で評価できるシステムも開発済み。
  • SiC、GaN新素材の経験も豊富。

スイッチングタイムテスター【MOS-FET, IGBT】

SWR330A
SWR330A

SWR330AはMOS-FET、IGBT用のR負荷スイッチングタイム測定器でソフトウェアとの連動により、オシロスコープの波形を取り込み良否の判定を行います。

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スイッチングタイム&ゲート容量テストシステム【MOS-FET, IGBT】

SWQR550
SWQR550

SWQR550はR負荷スイッチングタイム測定のほかに、ゲート容量（QG）測定機能を併せ持っています。ただし、各測定の特性を重視しているため、R負荷スイッチングとゲート容量の連続測定は行えません。

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半導体動特性評価システム【TRANSISTOR, MOS-FET, IGBT, DIODE】

SWRL1510ZZ
SWRL1510ZZ

1500V, 1000Aで1msの印加性能を持っており、パワーデバイスの動特性試験として十分なパワーを備えています。測定部はデバイスを冷却または高温状態で測定できるような構造が考慮されており、外部チャンバーとの接続を可能とし、温度特性によるデバイス評価を可能としています。

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