di/dtテストシステム

  • 破壊耐量試験のdi/dtの耐量を保証するシステム。

di/dテスター【MOS-FET, DIODE】

GST610Z
GST610Z

MOS-FETやダイオードの逆回復波形や破壊波形をオシロスコープから取り込み、ソフトウェアでdi/dtを求めその特性を判定します。OPEN/SHORT試験、ドライバーチェック機能もあり信頼性を向上させています。

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di/dテスター【MOS-FET, DIODE】

GSTM410Z
GSTM410Z

MOS-FETやダイオードの逆回復波形や破壊波形をオシロスコープから取り込み、ソフトウェアでdi/dtを求めその特性を判定します。OPEN/SHORT試験、ドライバーチェック機能もあり信頼性を向上させています。

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L負荷テスター【MOS-FET, DIODE】

GSTMLT310Z
GSTMLT310Z

di/dt測定とL負荷測定を一つのシステムに集約しました。波形特性を重視するため測定部はそれぞれ専用の測定端子にセットし測定を行います。

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