ダイオードテストシステム

  • ダイオード試験必須のサージ耐量測定器をはじめ新製品が続々登場するCATSのダイオード専用テスター群。

IFSMテスター【DIODE, SCR, TRIAC】

IFSM40ZZRP
IFSM40ZZRP

IFSM40ZZRPはダイオードの非繰り返し最大電流であるIFSMを印加し、その時のピーク電圧値を測定することで、 IFSMの耐量を保証するシステムです。2素子までの連続測定が可能です。

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VFRテスター【DIODE】

VFR510Z
VFR510Z

VFR510Zは、ダイオードの順方向に高速で電流を流し、順方向回復電圧及び時間をオシロスコープを接続して 測定する試験器です。diF/dtのスピードは500A/µsを保証しています。

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高速サージ破壊試験装置【DIODE】

CV-30KB
CV-30KB

CV-30KBは超高電圧30kVでのESD試験を行い、その後のリーク電流測定や耐圧測定で素子の劣化状態を確認するテスターです。 リーク測定はサージパルス印加前と印加後に測定し、変化の推移より劣化の有無を確認します。

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超高電圧リークテスター【ZENER DIODE】

CSZD50K
CSZD50K

CSZD50Kは、50kVの超高電圧でのリーク測定を可能としたシステムです。

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TRRテスター【DIODE】

TRR-M1A
TRR-M1A

TRR-M1AはIF, IR電流が100mAと1Aの選択となっています。測定範囲:20ns~80.000µs。

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半導体逆回復時間測定器【DIODE】

TRR-D2A
TRR-D2A

ダイオードの逆回復時間(Trr)をオシロスコープを用いて測定します。IF/IRは2Aまで可変できます。

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TRRテスター【DIODE】

TRR610B
TRR610B

TRR610BはIF/IR電流が0.5A~10Aまでと広い設定範囲を持っています。 高温での測定を考慮しヒーターとの接続が可能な構造となっています。

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製品情報


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