静特性テストシステム

  • 高圧・大電流に対応したシステム。

半導体テストシステム
【TRABSISTOR, MOS-FET, ZENER DIODE, PHOTO TRANSISTOR】

CCT510NA
CCT510NA

CCT510NAは生産ライン用として開発されたDCテスターで、3ステーションまでの測定を可能としています。また、パソコンからのコントロールはテスター8台まで可能なため、最大24ステーションの測定が1台のパソコンから制御できます。

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半導体テストシステム【TRANSISTOR, MOS-FET, DIODE】

CAT1050M
CAT1050M

CATシリーズはDC特性をテストする測定器で、電圧500V?1500V、電流10A?50Aまでの各種タイプを用意。また、1500V、50A以上のモデルはオプションにて対応可能です。測定ステーションは最大3チャンネルまで、スキャナを組み込むことにより多ピンデバイスの測定にも対応します。

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半導体テストシステム【TRANSISTOR, MOS-FET, IGBT, THYRISTOR, DIODE】

CAT2050SP
CAT2050SP

CATシリーズはDC特性をテストする測定器で、電圧500V?1500V、電流10A?50Aまでの各種タイプを用意。また、1500V、50A以上のモデルはオプションにて対応可能です。測定ステーションは最大3チャンネルまで、スキャナを組み込むことにより多ピンデバイスの測定にも対応します。

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半導体テストシステム【TRANSISTOR, MOS-FET, IGBT, DIODE】

CATL2010Z
CATL2010Z

プローバーによるウェハーの測定器として開発されたシステムで、DC特性とL負荷試験を1ヶ所で測定できます。測定プログラムや測定結果も一元管理ができるとともに、ウェハーマップ機能も装備されいます。

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半導体テストシステム【MOS-FET, IGBT, THYRISTOR, DIODE】

CHT3012ZZ
CHT3012ZZ

パワー半導体用DC測定テスターの最新モデルで、3kV-1200Aの印加能力を持っています。写真の測定台はヒーターステージなっており200℃までの温度上昇が可能です。

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波形検査テストシステム【IGBT】

WF3000
WF3000

IGBTの逆方向耐圧波形測定と3000Vのリーク電流を測定します。写真の測定ヘッドは36ピンのプログラマブルスキャナ付きのシステムですが、必要に応じた測定ヘッドに対応できます。

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4端子レギュレータテストシステム
【VOLTAGE REGULATOR, SHUNT REGULATOR】

CCR03PE
CCR03PE

CCR03PEは電圧レギュレータ・シャントレギュレータ用の測定システムで、2パラレル仕様となっています。測定精度は0.05%と高精度です。

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