IPM/IGBTテストシステム

  • IPM/IGBT用の静特性から動特性までの各種テスターをラインアップ。
  • 大電流 から 高圧 まで幅広い測定領域でコストパフォーマンスを実現。

IPMテストシステム【IPM, IGBT, DIODE】

IPM2060ZA
IPM2060ZA

2kV-600AのIPM・IGBTテスターで、最大7素子入りのモジュール測定に対応しています。

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IPMテストシステム【IPM, IGBT, THYRISTOR, DIODE】

IPM3030ZZ
IPM3030ZZ

3kV-3000A出力のIPMテスターで、3レベルインバーター測定にも対応しています。デジタル温度計とのインタフェース機能を持ち、ダイオードの基準温度と測定温度からVF特性を観測できます。

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IGBTテストシステム/IGBTチップ測定治具【IGBT, THYRISTOR, DIODE】

IGBT2010ZC/SAJ9020B
IGBT2010ZC

IGBTおよびサイリスタ用のDCテスターで2kV, 100Aの印加範囲を持ちます。測定部はモジュールに対応しており、自動でモジュールの脱着を行う機構となっています。また、モジュールの種類に対応したコンバージョンキットもオプションで揃えることもできるため、多品種のモジュール測定にも対応します。

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IGBTテストシステム【IGBT、DIODE】

IGBT3380Z
IGBT3380Z

高電圧3,300V印加タイプのIGBTテスターで、最大7素子入りのモジュール測定に対応しています。リーク電流(IEG)では8回路同時測定を可能としており、飛躍的な測定時間の短縮を可能としています。

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IGBTテストシステム【IGBT、DIODE】

IGBT7530Z
IGBT7530Z

高電圧印加のご要望にお応えし、7.5kV印加のIGBTテスターを実現しました。高電圧によるスパーク発生を抑え、安定した測定を実現するためのノウハウが投入されています。

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