ダイオードテストシステム

  • ダイオード試験必須のサージ耐量測定器をはじめ新製品が続々登場するCATSのダイオード専用テスター群。

IFSMテスター【DIODE】

IFSM-10ZZRPB
IFSM-10ZZRPB

IFSM-10ZZRPBは最大1000AのIFSMを連続で印加し、その時のピーク電圧値を測定することによりIFSMの耐量を保証します。ダイオード2素子まで測定に対応でき、2素子の場合は、連続交互測定も可能です。

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IFSMテスター【DIODE】

IFSM-45ZZ
IFSM-45ZZ

IFSM-45ZZは4500AまでのIFSMを印加し、IFSMの耐量を保証する試験器です(単発測定のみ)。半波時間は1.0ms~11.0msまで可変可能です。

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IFSMテスター【DIODE】

IFSM-50Z
IFSM-50Z

最大500AのIFSMを連続で印加し、その時のピーク電圧値を測定することによりIFSMの耐量を保証する試験器です。

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IFSMテストシステム【DIODE】

IFRM530Z
IFRM530Z

IFRM530Zはダイオードの順サージ電流IFRMを求め、耐量を保証する試験器です。

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VFRテスター【DIODE】

VFR510Z
VFR510Z

VFR510Zは、ダイオードの順方向に高速で電流を流し、順方向回復電圧及び時間をオシロスコープを接続して測定する試験器です。diF/dtのスピードは500A/usを保証しています。

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ハードブレイクダウンテスター【DIODE】

SZ410A
SZ410A

ダイオードの逆方向に一定電流サージを一定時間印加し、ダイオードの持つサージ耐量を確認する試験器です。

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高速サージ破壊試験装置【DIODE】

CV-30KB
CV-30KB

CV-30KBは超高電圧30kVでのESD試験を行い、その後のリーク電流測定や耐圧測定で素子の劣化状態を確認するテスターです。リーク測定はサージパルス印加前と印加後に測定し、変化の推移より劣化の有無を確認します。

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TRRテスター【DIODE】

TRR-M1A
TRR-M1A

TRR-M1AはIF, IR電流が100mAと1Aの選択となっています。測定範囲:20ns~80.000μs。

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半導体逆回復時間測定器【N/P DIODE】

TRRZ-N05M/TRR-PN100A/TRDI-PN100
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