その他の測定器

  • スーパージャンクション、治具まで含めた測定値で保証。

短絡試験器【IGBT】

SCT1010ZZ
SCT1010ZZ

SCT1010ZZはIGBT素子の短絡時におけるエネルギー耐量を試験します。付属のソフトウェアとの連動によりオシロスコープ波形からエネルギー量を計算します。また安全性を考慮し、D.U.T.の破壊防止機能も盛り込まれています。

詳細はこちら>>

短絡試験器【IGBT】

SCT620ZZ-7SC
SCT620ZZ-7SC

IGBTモジュールの最大7素子までの測定を可能としている短絡試験器です。測定治具との一体型で構成されており作業性に優れています。

詳細はこちら>>

QG測定装置【IGBT, MOS-FET】

QGI600B
QGI600B

MOS-FET, IGBTのゲート容量を測定するテスターです。ゲートリミット電圧をプラス、マイナスそれぞれ設定することができディップレッション型タイプにも対応しています。

詳細はこちら>>

容量測定器【MOS-FET, IGBT】

CPS900
CPS900

CPS900はMOS-FETやIGBTの容量測定を行うテスターです。容量計は外部の測定器を使用しますが、ソフトウェアで制御し一連の測定システムとして構築します。

詳細はこちら>>

IGBT容量測定器【IGBT】

CPS300B
CPS300B

IGBTの容量を外部容量計と接続し測定するシステムです。測定条件および測定結果をコンピュータによって管理し、EXCELでのデータ収集を可能とします。

詳細はこちら>>

耐圧試験器

TAC6000
TAC6000

半導体のパッケージに高電圧を印加し耐圧を保証する試験器です。3kV~6kV印加までのラインアップがあります。

詳細はこちら>>

耐圧試験器

TAC2000B
TAC2000B

半導体のパッケージに高電圧を印加し耐圧を保証する試験器です。3kV~6kV印加までのラインアップがあります。

詳細はこちら>>

10素子測定対応耐圧試験器

TARY4000
TARY4000

TACシリーズの多素子対応モデルで、10デバイス同時測定を可能としており、生産ラインのインデックスアップに威力を発揮します。

詳細はこちら>>

AC/DC耐圧試験器

TACD5000IG
TACD5000IG

半導体パッケージの耐電圧をAC及びDCの両測定法にてテストする試験器です。ACテストにおいて、電圧ピークの検出、またはVRMS(実効値)での検出のどちらかの測定モードを選択できます。

詳細はこちら>>

精度チェックボックス

AB1520
AB1520

AB1520はDCテスター用の精度チェックユニットで、各バイアス精度を専用のプログラムを使って簡単に検査できます。日常の機能チェックや、トラブル発生時の状況確認に役立ちます。

詳細はこちら>>

精度チェックボックス

AB3020Z
AB3020

AB3020Zは2kV-50A以上のDCテスター用の精度チェックユニットで、各バイアス精度を専用のプログラムを使って簡単に検査できます。日常の機能チェックや、トラブル発生時の状況確認に役立ちます。

詳細はこちら>>

CATS標準テストソケット

3端子用/ダイオード用
SOCKET

TO-220/TO-3P兼用と2端子ダイオードのテストソケットを用意しております。耐熱は220℃と300℃までの2種類です。

詳細はこちら>>

ヒートアップ装置

HU-350
HU-350

TO-220、TO-3P専用のヒートアップ装置で、150℃までヒートアップ能力を持っています。高温状態でのデバイス解析に最適で、しかもコンパクトなハンディタイプです。

詳細はこちら>>

ヒートアップ装置

HU-200B
HU-200B

TO-220、TO-3P専用のヒートアップ装置で、150℃までヒートアップ能力を持っています。高温状態でのデバイス解析に最適で、しかもコンパクトなハンディタイプです。

詳細はこちら>>
contact