CHT3050Z/SWL1050Z

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  • 著者 cats-manage
  • テストシステム 静特性 テストシステム

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     ウエハ検査

半導体テストシステム
【TRANSISTOR, MOS-FET, DIODE】

本システムはウエハ評価用のテストシステムで、DC特性とスイッチング特性を一度の測定で行うことができます。 また加圧制御機構も装備し測定プログラムで任意に制御することができます。 波形確認用のオシロスコープは内蔵されており、必要なときにいつでも波形チェックが行えます

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