CWT2020Z/QGR520Z

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     ウエハ検査

半導体テストシステム
【MOS-FET, IGBT, DIODE】

本器はウェハ測定用として開発されたシステムで、DC 測定とQG 測定（R 負荷）を一度に測定できます。測定部はスライド式のオーバーヘッドタイプで測定距離を最短する機構がとられています。オシロスコープの波形はソフトウェア上で解析されデータ表示を行います。

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