CHTS3050Z

  • 投稿日
  • 更新日
  • 著者 cats-manage
  • テストシステム 静特性 テストシステム

  • Warning: Attempt to read property "label" on array in /usr/home/mw2pnycqlb/www/htdocs/wp-cms/wp-content/plugins/my-snow-monkey/my-snow-monkey.php on line 221
     製品検査・信頼性試験

半導体テストシステム
【MOS-FET, IGBT, DIODE, THYRISTOR, ZENER DIODE】

本器はMOS-FET、IGBT、ダイオードに加え、サイリスタ、ツェナーダイオードの測定にも対応したDC テストシステムです。外置きのユニットは12 ピンプログラマブルスキャナと大電流源が配置されており、生産設備を考慮したシステム構成となっています。

CHTS3050Zカタログダウンロード
製品に関するお問い合わせ・資料請求

お電話はこちらから
0186-35-2102
※平日9：00～17：00まで受付