CHT2020ZC/LVNJ20ZFCA

半導体テストシステム
【MOS-FET, IGBT, DIODE】

本器は、プローバーでのウェハ測定を考慮した、オーバーヘッド機構の測定部により、DC 測定とL 負荷測定を連続でできるテストシステムです。
●L 負荷測定での異常波形検出時は、ヘッドボックス内の保護回路により、高速で電源を遮断する機能が装備されています。