CHTS3050Z

半導体テストシステム
【MOS-FET, IGBT, DIODE, THYRISTOR, ZENER DIODE】

本器はMOS-FET、IGBT、ダイオードに加え、サイリスタ、ツェナーダイオードの測定にも対応したDC テストシステムです。外置きのユニットは12 ピンプログラマブルスキャナと大電流源が配置されており、生産設備を考慮したシステム構成となっています。