CV-30KB

高速サージ破壊試験装置
【DIODE】

CV-30KBは超高電圧30kVでのESD試験を行い、その後のリーク電流測定や耐圧測定で素子の劣化状態を確認するテスターです。 リーク測定はサージパルス印加前と印加後に測定し、変化の推移より劣化の有無を確認します。